高溫試驗箱環(huán)境溫度受電路功率影響.老化板位置的變化.烘箱網(wǎng)速變化等因素的影響導(dǎo)致箱內(nèi)溫度場的變化。箱內(nèi)溫度場的劇烈變化會影響產(chǎn)品的正常老化試驗，形成過應(yīng)力，嚴(yán)重時會導(dǎo)致電路故障。對影響設(shè)備的溫度因素進行了試驗監(jiān)測和分析，找出了影響溫度的主要原因和規(guī)律，采取了更好的散熱措施，防止老化電路過溫故障。

　　1.高溫試驗箱內(nèi)的溫場變化受老化電路功率和散熱能力（風(fēng)速）的影響。該設(shè)備不僅控制電路的功率，而且改變了電路的布局。下層盡可能填充電路，逐漸從下層降低電路功率，形成功率梯度，與試驗箱風(fēng)速一致，達到散熱的目的。

 

　　2.試驗箱采用電熱高溫干燥試驗箱，風(fēng)源來自底部。由于試驗箱承載板和老化板，風(fēng)速由下而上逐漸降低。根據(jù)試驗箱風(fēng)速的特點，老化板的放置方向可與試驗箱的風(fēng)向一致，增加通風(fēng)面積，降低風(fēng)速屏障，增強高溫試驗箱的散熱功能。

 

　　3.根據(jù)改進措施結(jié)合功率器件DC/DC電源為測試對象，溫度設(shè)置為80℃，測試電路功率65W(1)逐漸增加到5200W(8)高溫試驗箱電路功率520W比設(shè)定溫度高5.6℃，符合國家標(biāo)準(zhǔn)要求(8)℃或8%)。